hogyan kell megmérni a sztreccsfilm vastagságmérőit

hogyan kell mérni a műszereketstretch fóliavastagság

A sztreccsfólia vastagságának mérési módszerei elsősorban a közvetlen mérést és a közvetett mérést foglalják magukban. ‌

Közvetlen mérés

A közvetlen mérési módszerek közé tartozik a spirálmikrométer, a precíziós kontúr pásztázás (lépéses módszer), a pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) stb. Ezek a módszerek közvetlenül indukálják a film vastagságát kontakt vagy fénykontaktus révén, és olyan helyzetekben is alkalmazhatók, ahol a a filmnek nem kell magasnak lennie.

A mechanikus érintkezési módszer egy korai alkalmazott vékonyréteg-vastagság mérési módszer, amely a vékonyréteg és a szonda közötti mechanikai elmozdulás mérésével határozza meg a vastagságot. Ez a módszer egyszerű és közvetlen, de károsíthatja a film felületét és befolyásolhatja a mérés pontosságát. Az elterjedt mechanikai érintkezési módszerek közé tartoznak a spirális mikrométerek és mikrométerek, amelyeket széles körben használnak a vékonyréteg-feldolgozó és -gyártó iparágakban.

Közvetett mérés:

Az indirekt mérési technikák példái az elliptikus polarizáció, az egyenlő vastagságú interferometria, a változó szögű interferometria, a kapacitás, az ellenállás és a súlymérés módszerei. Ezek a technikák a fólia vastagságát úgy számítják ki, hogy a megfelelő fizikai paraméterekhez megfelelő fizikai összefüggéseket alkalmaznak.

Az optikai módszer egy érintésmentes technika a vékonyréteg vastagságának mérésére, amely a fény interferencia, visszaverődés, fénytörés és így tovább fogalmakon alapul. A fényintenzitás, a fázis és a polarizáció mérését használja a vékony film vastagságának meghatározására. Mivel az optikai eljárások gyorsak, érintésmentesek és nagy pontosságúak, gyakran alkalmazzák olyan területeken, mint az optikai tervezés és a vékonyréteg-kutatás. Az általánosan használt optikai technikák az ellipszometria és az interferometria.

Az elektronmikroszkópos módszer egy vékony film vastagságának meghatározására a keresztmetszet elektronmikroszkóppal történő megfigyelésével. Előnye a nagy felbontás és az erős intuitivitás, valamint közvetlenül megfigyelhető a film mikroszerkezete és vastagsága. Az elektronmikroszkópia azonban összetett berendezéseket és technikai támogatást igényel, és magas követelményeket támaszt a minta-előkészítéssel szemben.

A gyakorlati alkalmazásokban a megfelelő mérési módszer kiválasztása a konkrét vizsgálati követelményektől és feltételektől függ. Például az olyan anyagok esetében, mint a sztreccsfóliák, szükséges lehet figyelembe venni plaszticitásuk és szakítótulajdonságaik hatását a mérési módszerre a mérés pontosságának és megbízhatóságának biztosítása érdekében.

Hol lehet vásárolnistretch fólia?

Akár ömlesztve, akár egyéni használatra szeretne vásárolni, a Shenzhen JYE packing materials Co., Ltd. (JYE stretch fólia) a kiváló minőségű sztreccs fóliákért az iparágban szerzett széleskörű tapasztalata, valamint innováció iránti elkötelezettsége teszi őket megbízható választás. Közvetlenül elérheti a következő címen: +86 13632970701, vagy e-mailt a sales8@jyestretchfilm.com címen. érdeklődni a vásárlási lehetőségekről és további részletekről.